光纖光譜儀,等離子體監控系統


	線陣CCD光纖光譜儀背照面CCD光纖光譜儀線陣PDA光纖光譜儀近紅外光譜儀紅外光譜儀熒光光譜儀線陣PbSe光譜儀光柵光譜儀雙色散單色儀 HORIBA JY光譜儀和探測器地物光譜儀，地物波譜儀 Apogee (AIS) CCD探測器

光譜應用系統

激光器


	Menlo飛秒激光器 CrystaLaser激光器 CryLas激光器 CVI激光器小型紅外連續可調激光器 Schafter Kirchhoff激光器 Coherent半導體激光器半導體激光器/窄線寬拉曼激光器 Nd:YAG脈沖激光器可調激光器OPO,鈦寶石飛秒Yb:KYW激光器 PDLD VBG拉曼激光器多波長脈沖激光器 ALS Pilas皮秒激光器 Toptica超快光纖激光器 Denselight SLED和DFB

激光測量


	激光波長計積分球激光分析 Coherent激光功率計能量計 Dataray激光光束分析系統自相關儀 FJW紅外觀察儀 Batop可飽和吸收鏡激光防護鏡激光電流源控制器TEC 自適應光學元件可變形反射鏡波前傳感器超快激光鏡片 EOT高速光電探測器 EOT光隔離器 WOP偏振轉換片 Alphalas超快探測器可調波片 OKO薄膜變形鏡壓電變形鏡波前傳感器橫河光譜分析儀光時域反射儀光波長計 VIALUX空間光調制器 AdlOptica平頂光束整形器 ScannerMax掃描振鏡

寬帶光源


	氘燈鹵鎢燈氘鹵鎢燈氙燈大功率光源 LED光源波長校準汞氬燈能量校準燈太陽能模擬器積分球均勻光源太陽能模擬器均勻光源氮化硅紅外光源標準黑體

LED影像測量


	LED和OLED測量系統 LED光強測試系統燈具測試系統平面顯示測量圖像光度計 Brontes色度計高光譜成像系統光譜圖像輻射計 Apogee (AIS) CCD探測器

光學附件

Thorlabs

Newport

Edmund

CVI

標準反射板


	太赫茲晶體太赫茲一體化系統實驗室級太赫茲系統太赫茲圖像系統太赫茲功率計自校正高靈敏太赫茲功率計太赫茲光電導天線太赫茲光學元件/偏振片 Terasense太赫茲相機線陣列太赫茲相機和發生器高功率太赫茲發生器 Nethis太赫茲顯示卡 Tydex太赫茲鏡片/偏振片/濾光片 INO太赫茲相機/鏡頭

濾光片

石墨烯納米材料

PlasCalc系列等離子體監控系統

可在僅3ms內測量200～1100nm波長范圍內的等離子體的發射。PlasCals測量系統為數據的獲取提供過程控制和精密的數據運算。

1.0nm(FWHM)光學解析度
200～1100nm波長范圍
快速建立和保存實驗方法

查看通用的等離子體測量系統

編輯工具

編輯工具可以使用戶簡單、快速地設置、建立和保存實驗方法。利用該工具可以對多數復雜的等離子體過程建立簡便而有效的步驟設置：例如測量薄膜沉積情況、監測等離子蝕刻、檢查表面清潔處理、分析等離子室健康控制情況、監測反常的污染和排放現象等。

用于簡單的等離子體診斷的多重工具

PlasCalc等離子體監控系統配有操作軟件，所提供的完整的公式編輯器可以進行所有需要的數學和算法功能。我們同時提供一個可選配的放射波長數據庫，可以另外單獨購買，它能夠提供種類的鑒定；而波長編輯器則使用戶完成信噪比的優化。操作界面包含兩個窗口，可以同時顯示真實的光譜和所有控制過程信息。

SPECIFICATIONS

Spectral range:	200-1100 nm
Optical resolution:	1.0 nm (FWHM)
D/A converter:	14 bit
Digital Input/Output:	8 x TTL
Analog Output:	4 x [0-10V]
Interface:	USB 1.1
Power consumption:	12 VDC @ 1.25 A
Power requirements:	90-240 VAC 50/60 Hz
Dimensions:	257 mm x 152 mm x 263 mm
Weight:	5 kg



	上海玻色智能科技有限公司上海: (021)3353-0926, 3353-0928 北京: (010)8217-0506 廣州: 139-0221-4841 武漢: 139-1733-4172 全國銷售服務熱線：4006-171751 Email: info@bosontech.com.cn www.www53908.com 2008-2025 All Rights Reserved!
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